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CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: [[CLIO/ Tasks/ DigitalControl/ Caltech_setup|2.辰巳からの要望 の3]] |
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CLIOのデジタル制御システムは、とりあえず以下のように構成される。 | CLIOのアナログ-デジタル間は、とりあえず以下のように構成される。 |
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また、2010年5月現在、CLIOでは、デジタル制御システムのパーツとして、AA, DD, DRの3種類の回路が作成されている。<<BR>> | 2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 ([[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/CLIO/Tasks/DigitalControl/TaskList|タスクリスト]]参照)。<<BR>> |
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今後、CLIOの感度を出していくために、これらの回路の特性を調べ、記録しておく。 アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、<<BR>> デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。<<BR>> |
今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。 * アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、 * デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。<<BR>> |
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== diagguiのつかいかた == portaで {{{ $diaggui & }}} とすると、Diagnostic test toolsという画面が現れる。4つのtab(Input, Measurement, Excitation, Result)のうち、通常はMeausrementのtabが選択されています。<<BR>> * 雑音レベルの測定をするときは、Measurement中のFourier Powerを選択します。 * 伝達関数の測定をするときは、Swept Sine Responseを選択します。<<BR>> |
[[CLIO/Tasks/DigitalControl/PerformanceTest/Diaggui|Diagguiのつかいかた]] |
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Measurement channels |
また、現時点で認識されている問題に、入力の60Hzの振幅が大きく、dynamic rangeを制限する可能性があることがあげられる。 === Calibration === === 雑音測定 === まず、ADCの雑音を測定する。入力をterminateして、 === 伝達関数測定 === === カップリング測定 === |
PerformanceTest
CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: 2.辰巳からの要望 の3
CLIO Digital
- CLIOのアナログ-デジタル間は、とりあえず以下のように構成される。
Analog input |
> |
(Whitening Filter) |
> |
Differential driver |
> |
AntiAliasing Filter |
> |
ADC |
> |
Digital control |
> |
DAC |
> |
AntiImaging Filter(=AA) |
> |
Differential Receiver |
> |
(Dewhitening Filter) |
> |
Analog output |
(white/dewhite filterは雑音レベルを気にするときのみ使用。)
2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 (タスクリスト参照)。
今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。- アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、
デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。
- また、現時点で認識されている問題に、入力の60Hzの振幅が大きく、dynamic rangeを制限する可能性があることがあげられる。
Calibration
雑音測定
まず、ADCの雑音を測定する。入力をterminateして、
伝達関数測定