1885
Comment:
|
2329
|
Deletions are marked like this. | Additions are marked like this. |
Line 3: | Line 3: |
CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(宮川、斉藤、大石) |
|
Line 9: | Line 11: |
また、2010年5月現在、CLIOでは、デジタル制御システムのパーツとして、AA, DD, DRの3種類の回路が作成されている。<<BR>> | 2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 ([[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/CLIO/Tasks/DigitalControl/TaskList|タスクリスト]]参照)。<<BR>> |
Line 11: | Line 14: |
今後、CLIOの感度を出していく基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録しておく。 アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、<<BR>> デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。<<BR>> |
今後、CLIOの感度を出していく基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。 * アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、 * デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。 |
Line 25: | Line 28: |
次に、Fourier Powerを選択した場合について、 |
=== Fourier Powerを選択した場合 === |
Line 30: | Line 33: |
http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/LCGT/subgroup/ifo/ISC/Terminology |
diagguiなどで用いられているLSCなどの略語は、 [[attachment:LIGO-M080375-V7 (Abbreviations And Acronyms).pdf|pdf]]や [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/LCGT/subgroup/ifo/ISC/Terminology|麻生さんの記事]]を参照してください。 |
PerformanceTest
- CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(宮川、斉藤、大石)
CLIO Digital
- CLIOのデジタル制御システムは、とりあえず以下のように構成される。
Analog input |
> |
(Whitening Filter) |
> |
Differential driver |
> |
AntiAliasing Filter |
> |
ADC |
> |
Digital control |
> |
DAC |
> |
AntiImaging Filter(=AA) |
> |
Differential Receiver |
> |
(Dewhitening Filter) |
> |
Analog output |
(white/dewhite filterは雑音レベルを気にするときのみ使用。)
2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 (タスクリスト参照)。
今後、CLIOの感度を出していく基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。- アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、
- デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。
diagguiのつかいかた
- portaで
$diaggui &
とすると、Diagnostic test toolsという画面が現れる。4つのtab(Input, Measurement, Excitation, Result)のうち、通常はMeausrementのtabが選択されています。
次の、Measurement boxの中で、 - 雑音レベルの測定をするときは、Fourier Powerを選択します。
伝達関数の測定をするときは、Swept Sine Responseを選択します。