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CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(大石、斉藤、宮川) |
CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: [[CLIO/ Tasks/ DigitalControl/ Caltech_setup|2.辰巳からの要望 の3]] |
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CLIOのデジタル制御システムは、とりあえず以下のように構成される。 | CLIOのアナログ-デジタル間は、とりあえず以下のように構成される。 |
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今後、CLIOの感度を出していく基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。 | 今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。 |
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また、現時点で | |
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== diagguiのつかいかた == portaで {{{ $diaggui & }}} とすると、Diagnostic test toolsという画面が現れる。4つのtab(Input, Measurement, Excitation, Result)のうち、通常はMeausrementのtabが選択されています。<<BR>> 次の、Measurement boxの中で、 * 雑音レベルの測定をするときは、Fourier Powerを選択します。 * 伝達関数の測定をするときは、Swept Sine Responseを選択します。<<BR>> === Fourier Powerを選択した場合 === Measurement Channels boxで、Channel 0 to 19 が選択されており、たとえば、ドロップダウンリストから、選択してチェックボックスをチェックする。 {{attachment:diaggui_select.png}} diagguiなどで用いられているLSCなどの略語は、 [[attachment:LIGO-M080375-V7 (Abbreviations And Acronyms).pdf|pdf]]や [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/LCGT/subgroup/ifo/ISC/Terminology|麻生さんの記事]]を参照してください。 |
[[CLIO/Tasks/DigitalControl/PerformanceTest/Diaggui|Diagguiのつかいかた]] |
PerformanceTest
CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: 2.辰巳からの要望 の3
CLIO Digital
- CLIOのアナログ-デジタル間は、とりあえず以下のように構成される。
Analog input |
> |
(Whitening Filter) |
> |
Differential driver |
> |
AntiAliasing Filter |
> |
ADC |
> |
Digital control |
> |
DAC |
> |
AntiImaging Filter(=AA) |
> |
Differential Receiver |
> |
(Dewhitening Filter) |
> |
Analog output |
(white/dewhite filterは雑音レベルを気にするときのみ使用。)
2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 (タスクリスト参照)。
今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。- アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、
- デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。 また、現時点で