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 CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。
 2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(大石、斉藤、宮川)
CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。
評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか参考:
[[CLIO/ Tasks/ DigitalControl/ Caltech_setup|2.辰巳からの要望 の3]]
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 CLIOのデジタル制御システムは、とりあえず以下のように構成される。  CLIOのアナログ-デジタルは、とりあえず以下のように構成される。
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 今後、CLIOの感度を出していく基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。  今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。
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 また、現時点で
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== diagguiのつかいかた ==
 
 portaで
 {{{
  $diaggui &
  }}}
 とすると、Diagnostic test toolsという画面が現れる。4つのtab(Input, Measurement, Excitation, Result)のうち、通常はMeausrementのtabが選択されています。<<BR>>
 次の、Measurement boxの中で、
 * 雑音レベルの測定をするときは、Fourier Powerを選択します。
 * 伝達関数の測定をするときは、Swept Sine Responseを選択します。<<BR>>
  
=== Fourier Powerを選択した場合 ===
 Measurement Channels boxで、Channel 0 to 19 が選択されており、たとえば、ドロップダウンリストから、選択してチェックボックスをチェックする。
 {{attachment:diaggui_select.png}}
 
diagguiなどで用いられているLSCなどの略語は、 [[attachment:LIGO-M080375-V7 (Abbreviations And Acronyms).pdf|pdf]]や
[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/JGWwiki/LCGT/subgroup/ifo/ISC/Terminology|麻生さんの記事]]を参照してください。

 
[[CLIO/Tasks/DigitalControl/PerformanceTest/Diaggui|Diagguiのつかいかた]]

PerformanceTest

CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータ蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの目処をつけることを目標とする。(担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: 2.辰巳からの要望 の3

CLIO Digital

  • CLIOのアナログ-デジタル間は、とりあえず以下のように構成される。

Analog input

>

(Whitening Filter)

>

Differential driver

>

AntiAliasing Filter

>

ADC

>

Digital control

>

DAC

>

AntiImaging Filter(=AA)

>

Differential Receiver

>

(Dewhitening Filter)

>

Analog output

  • (white/dewhite filterは雑音レベルを気にするときのみ使用。)
    2010年5月現在、CLIOでは、AA, DD, DRの3種類の回路を試作済 (タスクリスト参照)。
    今後、CLIOの感度を出していくための基礎データとして、これらの構成要素の特性を調べ、記録していく。

  • アナログ回路の特性(伝達関数、雑音レベル)の測定には、スペアナを、
  • デジタル回路の特性(伝達関数、雑音レベルなど)の測定には、diaguuiを用いる。 また、現時点で

Diagguiのつかいかた

CLIO/Tasks/DigitalControl/PerformanceTest (last edited 2011-07-04 16:12:43 by NaokoOhishi)