PerformanceTest

CLIOのデジタル制御システムに関わる回路類の性能評価とデータの蓄積方法を、試行しながら考える。 評価方法については、2010年6月中にだいたいの評価方法の目処をつけ、7月中に評価を行うことを目標とする。 (担当:大石、斉藤、supervisor:宮川、辰巳ほか)参考: 2.辰巳からの要望 の3

CLIO Digital

Analog input

>

(Whitening Filter)

>

Differential driver

>

AntiAliasing Filter

>

ADC

>

Digital control

>

DAC

>

AntiImaging Filter(=AA)

>

Differential Receiver

>

(Dewhitening Filter)

>

Analog output

近日中に、以下のように変更予定。

Analog input

>

Differential Driver

>

(Whitening filter)

>

AntiAliasing Filter

>

ADC

>

Digital Control

>

DAC

>

AntiImaging Filter(=AA)

>

Differential Receiver

>

(Dewhitening filter)

>

Analog output

ADCの評価

ADCの評価は、入力信号に対する応答、雑音レベルの2つの観点から行う。

calibration

デジタル信号の1LSB(Least Significant Bit)は、rangeをビット数で割ったものになり、

入力においてこれより小さな値を識別することはできない(ただし、digital内部での処理は32bitで行われる)。

channel

input +0.5V

input -0.5V

amplitude

offset

ch5

1638.25

-1626.06

3264.31 ()

12.19 ()

ch6

1637.54

-1627.01

3264.55 ()

10.53 ()

ch7

1637.93

-1626.78

3264.71 ()

11.15 ()

ch8

1639.37

-1623.97

3263.34 ()

15.40 ()

ADCの雑音スペクトル測定

DACの評価

calibration

DACの雑音スペクトル測定

shortedAI(SN006)>DR(SN002)

ZeroFilledDAC>AI(SN006)>DR(SN002)

グラフ

PS_SAI006_DR002.pdf

PS_ZDAC_AI006_DR002.pdf

ch1

PS_SAI006_DR002_ch1_LF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch1_LF.txt

PS_SAI006_DR002_ch1_HF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch1_HF.txt

ch2

PS_SAI006_DR002_ch2_LF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch2_LF.txt

PS_SAI006_DR002_ch2_HF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch2_HF.txt

ch3

PS_SAI006_DR002_ch3_LF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch3_LF.txt

PS_SAI006_DR002_ch3_HF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch3_HF.txt

ch4

PS_SAI006_DR002_ch4_LF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch4_LF.txt

PS_SAI006_DR002_ch4_HF.txt

PS_ZDAC_AI006_DR002_ch4_HF.txt

Differential Driverの評価

スペアナからのデータの取り出しについては、こちらを参照。

型番

基盤番号

入力チャンネル

グラフ

テキストデータ

古いデータ(あれば)

0900061

SN001

1

TF_DD_SN001_gain.pdf

TF0900061SN001ch1.txt

0900061

SN001

2

TF_DD_SN001_phase.pdf

TF0900061SN001ch2.txt

0900061

SN001

3

TF0900061SN001ch3.txt

0900061

SN001

4

TF0900061SN001ch4.txt

0900061

SN002

1

TF_DD_SN002_gain.pdf

TF0900061SN002ch1_rev.txt

TF0900061SN002ch1.txt

0900061

SN002

2

TF_DD_SN002_phase.pdf

TF0900061SN002ch2_rev.txt

TF0900061SN002ch2.txt

0900061

SN002

3

TF0900061SN002ch3.txt

0900061

SN002

4

TF0900061SN002ch4.txt

0900061

SN003

1

TF_DD_SN003_gain.pdf

TF0900061SN003ch1_rev.txt

TF0900061SN003ch1.txt

0900061

SN003

2

TF_DD_SN003_phase.pdf

TF0900061SN003ch2.txt

0900061

SN003

3

TF0900061SN003ch3.txt

0900061

SN003

4

TF0900061SN003ch4.txt

0900061

SN004

1

TF_DD_SN004_gain.pdf

TF0900061SN004ch1.txt

0900061

SN004

2

TF_DD_SN004_phase.pdf

TF0900061SN004ch2_rev.txt

TF0900061SN004ch2.txt

0900061

SN004

3

TF0900061SN004ch3.txt

0900061

SN004

4

TF0900061SN004ch4_rev.txt

TF0900061SN004ch4.txt

60Hzの除去性能

AntiAliasing(=AntiImaging)Filterの測定

AntiAliasingFilterは、高周波の映り込みを避けるためのもので、AntiImaging filterと同じである。 現在Differential Driverと同じ基盤を使っているので、基盤番号はDDと同じになる。 よって、SNは005, 006としておく。伝達関数の測定は、HP3562Aを用いて行った。 今回は、65kHz付近の周波数分解能は600Hzほどで測定を行っているので、gain@65535Hzは、実際には65501Hzの値を読んでいる。 notch周波数の精度もその程度である。

型番

基盤番号

入力ch

グラフ

テキストデータ

notch freq.

gain @ 65536Hz

0900061

SN005

1

TF_AA_SN005_gain.pdf

TF0900061SN005ch1.txt

68.391kHz

-72.9dB

0900061

SN005

2

TF_AA_SN005_phase.pdf

TF0900061SN005ch2.txt

70.794kHz

-70.2dB

0900061

SN005

3

TF0900061SN005ch3.txt

70.794kHz

-71.3dB

0900061

SN005

4

TF0900061SN005ch4.txt

70.794kHz

-71.6dB

0900061

SN006

1

TF_AA_SN006_gain.pdf

TF0900061SN006ch1.txt

68.391kHz

-72.9dB

0900061

SN006

2

TF_AA_SN006_phase.pdf

TF0900061SN006ch2.txt

68.391kHz

-73.0dB

0900061

SN006

3

TF0900061SN006ch3.txt

70.794kHz

-70.9dB

0900061

SN006

4

TF0900061SN006ch4.txt

70.794kHz

-71.8dB

Differential Receiverの測定

DRの各チャンネルが大きな問題なく動いているかどうかを確認するために、Hewlett Packardの3562Aを用いて、伝達関数の測定を行った。
SN001のch2は、抵抗が一本抜けていたため、当初ゲインが半分であった。

型番

基盤番号

入力チャンネル

グラフ

テキストデータ

古いデータ(あれば)

0900067

SN001

1

TF_DR_SN001_gain_rev.pdf

TF0900067SN001ch1.txt

0900067

SN001

2

TF_DR_SN001_phase_rev.pdf

TF0900067SN001ch2_rev.txt

TF0900067SN001ch2.txt

0900067

SN001

3

TF0900067SN001ch3.txt

0900067

SN001

4

TF0900067SN001ch4.txt

0900067

SN002

1

TF_DR_SN002_gain.pdf

TF0900067SN002ch1.txt

0900067

SN002

2

TF_DR_SN002_phase.pdf

TF0900067SN002ch2.txt

0900067

SN002

3

TF0900067SN002ch3.txt

0900067

SN002

4

TF0900067SN002ch4.txt

0900067

SN003

1

TF_DR_SN003_gain.pdf

TF0900067SN003ch1.txt

0900067

SN003

2

TF_DR_SN003_phase.pdf

TF0900067SN003ch2.txt

0900067

SN003

3

TF0900067SN003ch3.txt

0900067

SN003

4

TF0900067SN003ch4.txt

システム評価

遅延時間の測定

カップリング測定

カップリングの測定は、ADC/DACでまず行う。