|
Size: 2927
Comment:
|
← Revision 36 as of 2018-01-18 16:10:42 ⇥
Size: 2866
Comment:
|
| Deletions are marked like this. | Additions are marked like this. |
| Line 1: | Line 1: |
| = Instrument Control Working Group = === The scope of this WG. === |
## page was renamed from InstrumentControl = PLC (Instrument Control) Working Group = ||<tablewidth="376px" tablealign="left">[[#Scope|Scope]] ||[[#Documents|Documents]] ||[[KAGRA/Subgroups/MIF/PLC/EPICS|EPICS]] || ||[[KAGRA/Subgroups/MIF/PLC/Center|Center]] ||[[KAGRA/Subgroups/MIF/PLC/X-End|X-End]] ||[[KAGRA/Subgroups/MIF/PLC/Y-End|Y-End]] || <<Anchor(Scope)>> == The scope of this WG. == |
| Line 9: | Line 16: |
| ==== 資料 ==== | <<Anchor(Documents)>> == Documents == [[http://gwdoc.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=1218|KAGRA Instrument Control Requirements]] == List of instruments to be controlled == * [[InstrumentControl/Vacuum|Vacuum system]] * [[InstrumentControl/Cryo|Cryogenic system]] * [[InstrumentControl/Laser|Laser]] * [[InstrumentControl/EnvMon|Environmental monitors]] * [[InstrumentControl/Others]] === その他資料 === |
| Line 11: | Line 30: |
| . [[http://gwdoc.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/private/DocDB/ShowDocument?docid=761|日立造船提案書]] | |
| Line 14: | Line 32: |
== List of instruments to be controlled == ||<tablewidth="200px"#ffff99>Subsystem ||<#ffff99>Name ||<#ffff99>Model ||<#ffff99>Interface ||<#ffff99>Location ||<#ffff99>Quantity ||<#ffff99>Priority || ||Vac ||Gate Valve || || || ||7 ||Mid || ||VIS ||Suspension Watchdog || ||Analog Voltage, Relay Switches ||Every suspension ||11 ||High || ||Cryo ||Temp. Monitor || ||RS-232C ||Every Cryostat ||8 ||Low || ||Laser ||LD Current Monitor ||Analog Voltage || || ||4 ||High || ||IOO-AOS ||Shutter || || || Dark Port || 1 || Mid|| || VIS-AOS||Earthquake alart(?) by OpLev || || || ||13 || Mid|| || || || || || || || || || || || || || || || || || || || || || || || || |
|
| Line 30: | Line 36: |
| （電気） サージ 過電圧・電圧低下 瞬間停電 遠隔静電位差 静電気 |
（電気） サージ 過電圧・電圧低下 瞬間停電 遠隔静電位差 静電気 |
| Line 37: | Line 38: |
| （水） 漏水 水流停止 |
（水） 漏水 水流停止 |
| Line 41: | Line 40: |
| （空気） 風量 酸素濃度 有機溶剤濃度 温度 湿度 結露 |
（空気） 風量 酸素濃度 有機溶剤濃度 温度 湿度 結露 |
| Line 49: | Line 42: |
| （粉塵・菌類） 粉塵 菌類 |
（粉塵・菌類） 粉塵 菌類 |
| Line 55: | Line 46: |
| Line 58: | Line 48: |
| （１）真空機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 真空ポンプ動作 リーク GVの動作 真空センサー 窓破壊 |
（１）真空機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 真空ポンプ動作 リーク GVの動作 真空センサー 窓破壊 |
| Line 66: | Line 50: |
| （２）PT冷凍機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 過剰振動・音 水冷停止 ガスリークなど |
（２）PT冷凍機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 過剰振動・音 水冷停止 ガスリークなど |
| Line 72: | Line 52: |
| （３）クライオスタット 低温時真空暴露 ジャケット剥離 ジャケット焼失 温度異常 |
（３）クライオスタット 低温時真空暴露 ジャケット剥離 ジャケット焼失 温度異常 |
| Line 78: | Line 54: |
| （４）レーザーと付随系 自己防護機能で期待されるもの？ （過電流、過出力、水冷空冷停止、温度、粉塵？） 周辺光学機器（散乱、焼失） 壁面焼失 散乱 帯電？ |
（４）レーザーと付随系 自己防護機能で期待されるもの？ （過電流、過出力、水冷空冷停止、温度、粉塵？） 周辺光学機器（散乱、焼失） 壁面焼失 散乱 帯電？ |
| Line 86: | Line 56: |
| （５）入出射光学系まわり ホトディテクター（過光量、過電流、過温度） 散乱光吸収板（過温度、水冷空冷停止、煙霧） 誤接触 散乱 壁面焼失 |
（５）入出射光学系まわり ホトディテクター（過光量、過電流、過温度） 散乱光吸収板（過温度、水冷空冷停止、煙霧） 誤接触 散乱 壁面焼失 |
| Line 93: | Line 58: |
| （６）クリーン環境機器 ファン停止 ファン振動・音 室温度・湿度と分布 風量減少 粉塵増大 |
（６）クリーン環境機器 ファン停止 ファン振動・音 室温度・湿度と分布 風量減少 粉塵増大 |
PLC (Instrument Control) Working Group
The scope of this WG.
Implement the followings:
- Remote monitor of instruments deployed throughout the site.
- Remote manipulation of the instruments
- Automatic sequential control of the instruments in response to emergency situations.
Documents
KAGRA Instrument Control Requirements
List of instruments to be controlled
その他資料
Possible Scenarios of Emergencies
ーーあり得る環境異常ーー
（電気） サージ 過電圧・電圧低下 瞬間停電 遠隔静電位差 静電気
（水） 漏水 水流停止
（空気） 風量 酸素濃度 有機溶剤濃度 温度 湿度 結露
（粉塵・菌類） 粉塵 菌類
（火事）
ーーありえる大きな機器異常ーー
（１）真空機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 真空ポンプ動作 リーク GVの動作 真空センサー 窓破壊
（２）PT冷凍機器 （購入時に付随している自己防護・モニター機能でどこまでカバーされているか？） 過剰振動・音 水冷停止 ガスリークなど
（３）クライオスタット 低温時真空暴露 ジャケット剥離 ジャケット焼失 温度異常
（４）レーザーと付随系 自己防護機能で期待されるもの？ （過電流、過出力、水冷空冷停止、温度、粉塵？） 周辺光学機器（散乱、焼失） 壁面焼失 散乱 帯電？
（５）入出射光学系まわり ホトディテクター（過光量、過電流、過温度） 散乱光吸収板（過温度、水冷空冷停止、煙霧） 誤接触 散乱 壁面焼失
（６）クリーン環境機器 ファン停止 ファン振動・音 室温度・湿度と分布 風量減少 粉塵増大