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LCGT組織

LCGT Interface Control Document

各作業部会

インフラ	坑内外整備	ICD
	基線伸縮系	ICD

真空・低温・防振	真空装置・クライオスタット	ICD
	防振系(VIS)	ICD
	冷凍機	ICD

干渉計	干渉計制御(ISC)	ICD
	デジタル制御(digital)	ICD
	干渉計サポート	ICD1, ICD2,ICD3,ICD4

光学素子	安定化レーザー	ICD
	入射光学系	ICD

データ解析	Data Analysis (DAS)	ICD
	Analysis Center (ACS)	ICD
	Data Acquisition (DAQ)	ICD

Past subgroup

干渉計帯域幅

SPI

各サブグループへの参加の仕方

-  ⇤ ← Revision 11 as of 2009-05-15 12:32:02 → 
  Size: 1435
  Editor: whitehole
  Comment:
+   ← Revision 37 as of 2010-03-30 10:48:17 → ⇥
  Size: 2412
  Editor: kazuhiro.hayama
  Comment:
-Deletions are marked like this.
+Additions are marked like this.
 Line 1:
-|| '''[[LCGT|PROJECT TOP]]''' ||[[LCGT/subgroup/analysis|GW Analysis]] ||[[LCGT/subgroup/ifo|Interferometer]] ||[[LCGT/subgroup/vacuum|Vacuum & Cryostat]] ||[[LCGT/subgroup/laser|Laser & Optics]] ||[[LCGT/subgroup/machanics|Seismic Isolator]] ||[[LCGT/subgroup/infra|Infrastructure]] ||
+= LCGT組織 =
 Line 3:
-= LCGT組織、及び各作業部会 =
+[[LCGT/subgroup/list|組織図]]
 Line 5:
-== 短期集中タスク ==
+= LCGT Interface Control Document =
 Line 7:
-[[LCGT/subgroup/ICD|Interface Control Document]]　の策定
+[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=18|ICD]]
 Line 9:
- *　締め切り:5月下旬、各作業部会のリーダーは黒田さんまで提出
+= 各作業部会 =

||インフラ|| ||[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]|| ||ICD||
|| || ||[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]|| ||ICD||
|| || || ||
||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=21|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/vis|防振系(VIS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=26|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]||
|| || || ||
||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]||
|| || || ||
||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=8|ICD]]||
|| || || ||
||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|Analysis Center (ACS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|Data Acquisition (DAQ)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]||
-Line 12:
+Line 31:
-[[LCGT/subgroup/list|LCGT組織図]]

----
 *[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]
 *[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]
 *[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置]]
 *[[LCGT/subgroup/roomtemp|室温防振]]
 *[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]]
 *[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]
 *[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]
 *[[LCGT/subgroup/sus|防振懸架系]]
 *[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]
 *[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]
  *[[LCGT/subgroup/analysis/GW-search|GW search]]
  *[[LCGT/subgroup/analysis/daq|データ収集系]]
+== Past subgroup ==
||[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]]||
||[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]]||