Differences between revisions 31 and 35 (spanning 4 versions)

LCGT組織、及び各作業部会

インフラ	坑内外整備	ICD
	基線伸縮系	ICD

真空・低温・防振	真空装置・クライオスタット	ICD
	防振系(VIS)
	冷凍機	ICD

干渉計	干渉計制御(ISC)	ICD
	デジタル制御(digital)	ICD
	干渉計サポート	ICD1, ICD2,ICD3,ICD4
	干渉計帯域幅
	SPI

光学素子	安定化レーザー	ICD
	入射光学系	ICD

データ解析	Data Analysis (DAS)	ICD
	Analysis Center (ACS)	ICD
	Data Acquisition (DAQ)	ICD

各サブグループへの参加の仕方

-  ⇤ ← Revision 31 as of 2010-03-30 09:45:26 → 
  Size: 1435
  Editor: kazuhiro.hayama
  Comment:
+   ← Revision 35 as of 2010-03-30 10:42:21 → ⇥
  Size: 2613
  Editor: kazuhiro.hayama
  Comment:
-Deletions are marked like this.
+Additions are marked like this.
 Line 9:
-o [[LCGT/subgroup/ICD|Interface Control Document]]
+[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=18|LCGT Interface Control Document]]
 Line 12:
- *インフラ    *[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]
  *[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]
 *真空・低温・防振    *[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]
  *[[LCGT/subgroup/vis|防振系(VIS)]]
  *[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]
 *[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]]
  *[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]]
 *光学素子    *[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]
  *[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]
 *[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]
  *[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]
  *[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|Analysis Center (ACS)]]
  *[[LCGT/subgroup/analysis/daq|Data Acquisition (DAQ)]]
+||インフラ|| ||[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]|| ||ICD||
|| || ||[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]|| ||ICD||
|| || || ||
||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=21|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/vis|防振系(VIS)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]||
|| || || ||
||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]]||
|| || || ||
||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=8|ICD]]||
|| || || ||
||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|Analysis Center (ACS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|Data Acquisition (DAQ)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]||