Differences between revisions 33 and 34

LCGT組織、及び各作業部会

インフラ	坑内外整備	ICD
	基線伸縮系	ICD

真空・低温・防振	真空装置・クライオスタット	ICD
	防振系(VIS)
	冷凍機	ICD

干渉計	干渉計制御(ISC)	ICD
	デジタル制御(digital)	ICD
	干渉計サポート	ICD1, ICD2,ICD3,ICD4
	干渉計帯域幅
	SPI

光学素子	安定化レーザー	ICD
	入射光学系	ICD

データ解析	Data Analysis (DAS)	ICD
	Analysis Center (ACS)	ICD
	Data Acquisition (DAQ)	ICD

各サブグループへの参加の仕方

-  ⇤ ← Revision 33 as of 2010-03-30 10:33:07 → 
  Size: 1648
  Editor: kazuhiro.hayama
  Comment:
+   ← Revision 34 as of 2010-03-30 10:42:03 → ⇥
  Size: 2617
  Editor: kazuhiro.hayama
  Comment:
-Deletions are marked like this.
+Additions are marked like this.
 Line 9:
-o [[LCGT/subgroup/ICD|Interface Control Document]]
+o [[[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=18|LCGT Interface Control Document]]
 Line 16:
-||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]||
+||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=21|ICD]]||
 Line 18:
-|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]||
+|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]||
 Line 20:
-||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]||
+||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]||
 Line 26:
-||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
+||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=8|ICD]]||
 Line 29:
-||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|Analysis Center (ACS)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|Data Acquisition (DAQ)]]||
+||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|Analysis Center (ACS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|Data Acquisition (DAQ)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]||