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<<TableOfContents(3)>> | = 各作業部会 = |
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*[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]] *[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]] *[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置]] *[[LCGT/subgroup/roomtemp|室温防振]] *[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]] *[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]] *[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]] *[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]] *[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]] *[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]] *[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]] *[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]] *[[LCGT/subgroup/sus|防振懸架系]] *[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]] *[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]] *[[LCGT/subgroup/analysis/GW-search|GW search]] *[[LCGT/subgroup/analysis/daq|データ収集系]] |
||インフラ|| ||[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]|| ||[[ |ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]|| ||[[ |ICD]]|| || || || || || || ||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=21|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/vis|防振・懸架系(VIS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=26|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]|| || || || || || || || || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]|| || || || || || || ||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=8|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/mirror|鏡設計・製作]]|| ||[[ |ICD]]|| || || || || || || ||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|データ収集系 (Data Acquisition (DAQ))]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]|| || || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|解析センター (Analysis Center (ACS))]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]|| |
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[[LCGT/subgroup/howtojoin|各サブグループへの参加の仕方]] |
== Past subgroup == ||[[LCGT/subgroup/ifo/BW|干渉計帯域幅]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/SPI|SPI]]|| ---- .[[attachment:LCGT/Meeting/weekly/minute/組織図100419.pdf|組織図(2010/4/19現在)]] .[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=18|Interface Control Document (ICDまとめ)]] .[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=19|ICD template]] .[[LCGT/subgroup/howtojoin|各サブグループへの参加の仕方]] |
各作業部会
インフラ |
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真空・低温・防振 |
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光学素子 |
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Past subgroup