Differences between revisions 47 and 48

各作業部会

インフラ		坑内外整備	ICD
		基線伸縮系	ICD

真空・低温・防振		真空装置・クライオスタット	ICD(真空),ICD(cryostat)
		防振・懸架系(VIS)	ICD
		冷凍機	ICD

		干渉計サポート	ICD1, ICD2,ICD3,ICD4
干渉計		干渉計制御(ISC)	ICD
		デジタル制御(digital)	ICD

光学素子		安定化レーザー	ICD
		入射光学系	ICD
		鏡設計・製作	ICD

データ解析	Data Analysis (DAS)		ICD
		データ収集系 (Data Acquisition (DAQ))	ICD
		解析センター (Analysis Center (ACS))	ICD

Past subgroup

干渉計帯域幅

SPI

組織図(2010/4/19現在)
Interface Control Document (ICDまとめ)
ICD template
各サブグループへの参加の仕方

-  ⇤ ← Revision 47 as of 2010-04-19 14:09:08 → 
  Size: 2782
  Editor: OsamuMiyakawa
  Comment:
+   ← Revision 48 as of 2010-04-19 14:13:50 → ⇥
  Size: 2728
  Editor: OsamuMiyakawa
  Comment:
-Deletions are marked like this.
+Additions are marked like this.
 Line 3:
-||インフラ|| ||[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]|| ||[[ |ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]|| ||[[ |ICD]]||
|| || || || || ||
||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=26|ICD(真空)]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=91|ICD(cryostat)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/vis|防振・懸架系(VIS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=88|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]||
|| || || || || ||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]||
||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]||
|| || || || || ||
||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=90|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/mirror|鏡設計・製作]]|| ||[[　|ICD]]||
|| || || || || ||
||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]|| ||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|データ収集系 (Data Acquisition (DAQ))]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|解析センター (Analysis Center (ACS))]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]||
+||インフラ|| ||[[LCGT/subgroup/mine|坑内外整備]]||[[ |ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/crust|基線伸縮系]]||[[ |ICD]]||
|| || || || ||
||真空・低温・防振|| ||[[LCGT/subgroup/vacuum|真空装置・クライオスタット]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=26|ICD(真空)]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=91|ICD(cryostat)]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/vis|防振・懸架系(VIS)]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=88|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/lowtemp|冷凍機]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=25|ICD]]||
|| || || || ||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/support|干渉計サポート]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=11|ICD1]], [[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=12|ICD2]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=13|ICD3]],[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=14|ICD4]]||
||[[LCGT/subgroup/ifo|干渉計]]|| ||[[LCGT/subgroup/ifo/ISC|干渉計制御(ISC)]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=9|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ifo/digital|デジタル制御(digital)]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=10|ICD]]||
|| || || || ||
||光学素子|| ||[[LCGT/subgroup/laser|安定化レーザー]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=7|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/ioo|入射光学系]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=90|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/mirror|鏡設計・製作]]||[[　|ICD]]||
|| || || || ||
||[[LCGT/subgroup/analysis|データ解析]]||[[LCGT/subgroup/analysis/gw_search|Data Analysis (DAS)]]|| ||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=17|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/daq|データ収集系 (Data Acquisition (DAQ))]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=15|ICD]]||
|| || ||[[LCGT/subgroup/analysis/data_center|解析センター (Analysis Center (ACS))]]||[[http://gw.icrr.u-tokyo.ac.jp/cgi-bin/DocDB/ShowDocument?docid=16|ICD]]||